DH-LMC1001 HSL公转母探针测试头（T）L型测试模组采用紧凑的L型T型结构设计，能灵活适配空间受限的测试工位，实现高速信号的90度转向转接，大幅提升测试布局的灵活性。模组内置高精密探针结构，接触件选用优质镀金铜合金，导电性能优异、抗氧化能力强，可保障HSL高速链路信号的低损耗、高稳定传输，有效抑制串扰与信号干扰，适配高频高速数据测试需求。金属外壳结构坚固耐用，防护性能优异，能有效抵御工业测试环境中的粉尘、油污与机械冲击，延长使用寿命，同时具备出色的抗振动性能，适配自动化产线的高频次插拔测试。
